htw saar Piktogramm QR-encoded URL
Zurück zur Hauptseite Version des Moduls auswählen:
Lernziele hervorheben XML-Code

Testverfahren

Modulbezeichnung:
Bezeichnung des Moduls innerhalb des Studiengangs. Sie soll eine präzise und verständliche Überschrift des Modulinhalts darstellen.
Testverfahren
Modulbezeichnung (engl.): Electronic Testing
Studiengang:
Studiengang mit Beginn der Gültigkeit der betreffenden ASPO-Anlage/Studienordnung des Studiengangs, in dem dieses Modul zum Studienprogramm gehört (=Start der ersten Erstsemester-Kohorte, die nach dieser Ordnung studiert).
Elektrotechnik, Master, ASPO 01.10.2005
Code: E933
SWS/Lehrform:
Die Anzahl der Semesterwochenstunden (SWS) wird als Zusammensetzung von Vorlesungsstunden (V), Übungsstunden (U), Praktikumsstunden (P) oder Projektarbeitsstunden (PA) angegeben. Beispielsweise besteht eine Veranstaltung der Form 2V+2U aus 2 Vorlesungsstunden und 2 Übungsstunden pro Woche.
2V (2 Semesterwochenstunden)
ECTS-Punkte:
Die Anzahl der Punkte nach ECTS (Leistungspunkte, Kreditpunkte), die dem Studierenden bei erfolgreicher Ableistung des Moduls gutgeschrieben werden. Die ECTS-Punkte entscheiden über die Gewichtung des Fachs bei der Berechnung der Durchschnittsnote im Abschlusszeugnis. Jedem ECTS-Punkt entsprechen 30 studentische Arbeitsstunden (Anwesenheit, Vor- und Nachbereitung, Prüfungsvorbereitung, ggfs. Zeit zur Bearbeitung eines Projekts), verteilt über die gesamte Zeit des Semesters (26 Wochen).
2
Studiensemester: 9
Pflichtfach: nein
Arbeitssprache:
Deutsch
Prüfungsart:
Klausur

[letzte Änderung 09.01.2010]
Verwendbarkeit / Zuordnung zum Curriculum:
Alle Studienprogramme, die das Modul enthalten mit Jahresangabe der entsprechenden Studienordnung / ASPO-Anlage.

E933 Elektrotechnik, Master, ASPO 01.10.2005 , 9. Semester, Wahlpflichtfach
Arbeitsaufwand:
Der Arbeitsaufwand des Studierenden, der für das erfolgreiche Absolvieren eines Moduls notwendig ist, ergibt sich aus den ECTS-Punkten. Jeder ECTS-Punkt steht in der Regel für 30 Arbeitsstunden. Die Arbeitsstunden umfassen Präsenzzeit (in den Vorlesungswochen), Vor- und Nachbereitung der Vorlesung, ggfs. Abfassung einer Projektarbeit und die Vorbereitung auf die Prüfung.

Die ECTS beziehen sich auf die gesamte formale Semesterdauer (01.04.-30.09. im Sommersemester, 01.10.-31.03. im Wintersemester).
Die Präsenzzeit dieses Moduls umfasst bei 15 Semesterwochen 30 Veranstaltungsstunden (= 22.5 Zeitstunden). Der Gesamtumfang des Moduls beträgt bei 2 Creditpoints 60 Stunden (30 Std/ECTS). Daher stehen für die Vor- und Nachbereitung der Veranstaltung zusammen mit der Prüfungsvorbereitung 37.5 Stunden zur Verfügung.
Empfohlene Voraussetzungen (Module):
Keine.
Als Vorkenntnis empfohlen für Module:
Modulverantwortung:
Prof. Dr. Volker Schmitt
Dozent/innen:
Prof. Dr. Volker Schmitt


[letzte Änderung 13.03.2010]
Lernziele:
Die Studierenden erkennen die Problematik und die Notwendigkeit des Testens in elektronischen Schaltungen. Mit den Kenntnissen über die gängigen Testverfahren besitzen sie das Rüstzeug, um testfreundliche Entwürfe sicher zu stellen, über den Einsatz bestimmter Testverfahren zu entscheiden und sich weitere spezielle Gebiete der Testproblematik zu erschließen.

[letzte Änderung 09.01.2010]
Inhalt:
- Einleitung,  Verifikation, Validierung, Identifikation,
- Fehlermodelle, Haftfehler, Fehleräquivalenz, Fehlerdominanz,
- Testmusterberechnung, boolesche Differenz, Pfadsensibilisierung, D-Algorithmus,
- Fehlersimulation,  Methoden, Testbarkeitsanalyse, Steuerbarkeit,  
  Beobachtbarkeit, statistische Verfahren, Schätzverfahren,
- testfreundlicher Entwurf (design for testability),
- Unterbrechungsfehler, Verzögerungsfehler, Reed-Muller-Form, Prüfbus, Selbsttest
  integrierter Schaltungen,
- Testmustergenerator, Zähler, linear und nichtlinear rückgekoppelte  
  Schieberegister, Testdatenkompression, Signaturanalyse,
- Boundary-scan Testverfahren

[letzte Änderung 09.01.2010]
Weitere Lehrmethoden und Medien:
Folien, Kopiervorlagen der Folien

[letzte Änderung 09.01.2010]
Literatur:
DAEHN, W.: Testverfahren in der Mikroelektronik; Springer, 1997
AUER, A.; KIMMELMANN, R.: Schaltungstest mit Boundary-Scan; Hüthig, 1996
Einführung in das Boundary-Scan Testverfahren; Hewlett Packard
HP Boundary-Scan Tutorial and BSDL Reference Guide; Hewlett Packard
The ABCs of Boundary-Scan Test; Philips

[letzte Änderung 09.01.2010]
 
[Sat Apr 20 13:04:11 CEST 2024, CKEY=eta, BKEY=em, CID=E933, LANGUAGE=de, DATE=20.04.2024]