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Rasterelektronenmikroskopie und Röntgenmikroanalyse

(Modul inaktiv seit 30.01.2019)

Modulbezeichnung:
Bezeichnung des Moduls innerhalb des Studiengangs. Sie soll eine präzise und verständliche Überschrift des Modulinhalts darstellen.
Rasterelektronenmikroskopie und Röntgenmikroanalyse
Studiengang:
Studiengang mit Beginn der Gültigkeit der betreffenden ASPO-Anlage/Studienordnung des Studiengangs, in dem dieses Modul zum Studienprogramm gehört (=Start der ersten Erstsemester-Kohorte, die nach dieser Ordnung studiert).
Mechatronik/Sensortechnik, Bachelor, ASPO 01.10.2012
Code: MST.REM
SAP-Submodul-Nr.:
Die Prüfungsverwaltung mittels SAP-SLCM vergibt für jede Prüfungsart in einem Modul eine SAP-Submodul-Nr (= P-Nummer). Gleiche Module in unterschiedlichen Studiengängen haben bei gleicher Prüfungsart die gleiche SAP-Submodul-Nr..
P221-0170
SWS/Lehrform:
Die Anzahl der Semesterwochenstunden (SWS) wird als Zusammensetzung von Vorlesungsstunden (V), Übungsstunden (U), Praktikumsstunden (P) oder Projektarbeitsstunden (PA) angegeben. Beispielsweise besteht eine Veranstaltung der Form 2V+2U aus 2 Vorlesungsstunden und 2 Übungsstunden pro Woche.
1V+1P (2 Semesterwochenstunden)
ECTS-Punkte:
Die Anzahl der Punkte nach ECTS (Leistungspunkte, Kreditpunkte), die dem Studierenden bei erfolgreicher Ableistung des Moduls gutgeschrieben werden. Die ECTS-Punkte entscheiden über die Gewichtung des Fachs bei der Berechnung der Durchschnittsnote im Abschlusszeugnis. Jedem ECTS-Punkt entsprechen 30 studentische Arbeitsstunden (Anwesenheit, Vor- und Nachbereitung, Prüfungsvorbereitung, ggfs. Zeit zur Bearbeitung eines Projekts), verteilt über die gesamte Zeit des Semesters (26 Wochen).
2
Studiensemester: 6
Pflichtfach: nein
Arbeitssprache:
Deutsch
Prüfungsart:
Klausur und Präsentation

[letzte Änderung 02.03.2010]
Verwendbarkeit / Zuordnung zum Curriculum:
Alle Studienprogramme, die das Modul enthalten mit Jahresangabe der entsprechenden Studienordnung / ASPO-Anlage.

MST.REM (P221-0170) Mechatronik/Sensortechnik, Bachelor, ASPO 01.10.2012 , 6. Semester, Wahlpflichtfach, technisch, Modul inaktiv seit 30.01.2019
MST.REM (P221-0170) Mechatronik/Sensortechnik, Bachelor, ASPO 01.10.2019 , 6. Semester, Wahlpflichtfach, technisch, Modul inaktiv seit 30.01.2019
MST.REM (P221-0170) Mechatronik/Sensortechnik, Bachelor, ASPO 01.10.2020 , 6. Semester, Wahlpflichtfach, technisch, Modul inaktiv seit 30.01.2019
MST.REM (P221-0170) Mechatronik/Sensortechnik, Bachelor, ASPO 01.10.2011 , 6. Semester, Wahlpflichtfach, technisch, Modul inaktiv seit 30.01.2019
Arbeitsaufwand:
Der Arbeitsaufwand des Studierenden, der für das erfolgreiche Absolvieren eines Moduls notwendig ist, ergibt sich aus den ECTS-Punkten. Jeder ECTS-Punkt steht in der Regel für 30 Arbeitsstunden. Die Arbeitsstunden umfassen Präsenzzeit (in den Vorlesungswochen), Vor- und Nachbereitung der Vorlesung, ggfs. Abfassung einer Projektarbeit und die Vorbereitung auf die Prüfung.

Die ECTS beziehen sich auf die gesamte formale Semesterdauer (01.04.-30.09. im Sommersemester, 01.10.-31.03. im Wintersemester).
Die Präsenzzeit dieses Moduls umfasst bei 15 Semesterwochen 30 Veranstaltungsstunden (= 22.5 Zeitstunden). Der Gesamtumfang des Moduls beträgt bei 2 Creditpoints 60 Stunden (30 Std/ECTS). Daher stehen für die Vor- und Nachbereitung der Veranstaltung zusammen mit der Prüfungsvorbereitung 37.5 Stunden zur Verfügung.
Empfohlene Voraussetzungen (Module):
Keine.
Als Vorkenntnis empfohlen für Module:
Modulverantwortung:
Prof. Dr. Günter Schultes
Dozent/innen: Prof. Dr. Günter Schultes

[letzte Änderung 01.10.2012]
Lernziele:
1. Erlernen der physikalischen Grundlagen der Elektronenmikroskopie
2. Praktische Handhabung eines Rasterelektronenmikroskopes
3. Einsatzmöglichkeiten in den Arbeitsfeldern eines Ingenieurs
4. Interpretation der Bilder und Röntgenspektren
5. Vorgehensweisen in der Schadensanalyse

[letzte Änderung 17.03.2010]
Inhalt:
Theoretischer Teil
1. Physikalische Grundlagen der Elektronenmikroskopie
2. Aufbau und Funktionsweise eines Rasterelektronenmikroskops (REM)
3. Aufbau und Funktionsweise eines EDX - Detektors
4. Bild- und Spektrenerzeugung
 
Praktische Übungen:
1. Erlernen der Gerätebedienung
2. Anwendungsgebiete für REM und EDX kennenlernen
3. Schadensanalyse mittels REM und EDX an ausgewählten Beispielen


[letzte Änderung 17.03.2010]
Weitere Lehrmethoden und Medien:
Theoretischer Teil:
Vorlesung mit PowerPointPräsentation und Skript
 
Praktischer Teil
Arbeiten am Gerät in Zweiergruppen
Präsentation der Ergebnisse des praktischen Teils in kurzen Vorträgen

[letzte Änderung 17.03.2010]
Literatur:
1. Flegler, Heckman, Klomparens: " Elektronenmikroskopie. Grundlagen, Methoden, Anwendungen" Akademischer Verlag Heidelberg
2. Schmidt: " Praxis der Rasterelektronenmikroskopie" Expert Verlag Renningen
3. Goldstein, Mewbury, Echlin, Joy, Fiory, Lifshin: "Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis", Plenum Press, New York
4. Lyman: Scanning electron microscopy, x-ray microanalysis and analytical electron microscopy. A laboratory workbook" Plenum press, New York

[letzte Änderung 17.03.2010]
 
[Sat Apr 20 06:38:22 CEST 2024, CKEY=xrur, BKEY=mst2, CID=MST.REM, LANGUAGE=de, DATE=20.04.2024]